테스트 및 측정
Measure the impossible. Our integrated circuits are engineered to capture the most precise data from the real world. Build instruments that define accuracy, enabling breakthroughs in science and engineering with our advanced IC solutions.
필터
2042 결과 중 1981-1992 표시하기
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텍사스 인스트루먼트 OP07CDR 정밀 연산 증폭기, SOIC-8 ?C 낮은 오프셋 전압
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Texas Instruments OPA1678IDR Audio Op-Amp, SOIC-8 ?C High-Fidelity Low-Noise
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텍사스 인스트루먼트 SMJ27C512-45JM 512K EPROM, JM-28 - 45ns 밀폐형
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텍사스 인스트루먼트 SMJ61CD64L-45JDM 64K×8 SRAM, JDM-28 - 45ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ64C16L-55JDM 16K×8 SRAM, JDM-24 - 55ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ64C16S-25JDM 16K×8 SRAM, JDM-24 - 25ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ64C16S-35JDM 16K×8 SRAM, JDM-24 - 35ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ64C16S-55JDM 16K×8 SRAM, JDM-24 - 55ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ64C64S-45JDM 64K×8 SRAM, JDM-28 - 45ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ68CE16L-35JDM 128K×8 SRAM, JDM-32 - 35ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ68CE16L-45JDM 128K×8 SRAM, JDM-32 - 45ns 밀폐형 CMOS
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텍사스 인스트루먼트 SMJ68CE16L-55JDM 128K×8 SRAM, JDM-32 - 55ns 밀폐형 CMOS
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